技術士試験(情報工学部門)・情報技術者試験。ファーストマクロ。

�@　ロジスティック曲線

�A　指数型分布モデル

�B　FMEA

�C　探針テスト

�D　遅延Ｓ字型モデル

�@　ロジスティック曲線は、時間の推移と累積不具合数の関係を成長曲線として示した曲線である。

�A　Gompertz曲線などが残存不具合を予測するために使われる。

�B　不適切である。FMEA (Failure Mode and Effect Analysis = 故障モードと影響解析) は、故障を予測して、未然に故障を防止する手法である。残存不具合の予測という意味では最も不適切な選択肢である。

�C　探針テストは、無作為にサンプリングし、その不具合数から全体の残存不具合を推測することを指すことが多いが、衣類のような場合は、全数検査を行う場合もある。

�D　遅延Ｓ字型モデルは、発生した不具合数に基づく確率統計モデルである。