本文へスキップ

技術士試験(情報工学部門)・情報技術者試験。ファーストマクロ。


Since 2016.4.19

平成23年度 秋期 応用情報技術者試験問題と解説

問23

LSIの故障メカニズムの一つであるESD (Electrostatic Discharge) 破壊の説明として、適切なものはどれか。

ア 機械的な力によって、配線が切断されてしまう現象

イ 寄生サイリスタの導通によって、半導体素子が破壊されてしまう現象

ウ 静電気放電によって、半導体素子が破壊されてしまう現象

エ 電流が過度に流れることによって、配線が切断されてしまう現象


正解


解説

ア 物理的な破壊であり、ESDの説明ではない。

イ ラッチアップの説明である。

ウ 正しい。ESDは静電放電や静電気放電と呼ばれる。

エ 過電流による破壊であり、ESDの説明ではない。

問22 目次 問24