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技術士試験(情報工学部門)・情報技術者試験。ファーストマクロ。


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平成27年度 春期 応用情報技術者試験問題と解説

問23

半導体製造プロセスが微細化することによって問題となってきたリーク電流の低減手段として、適切なものはどれか。

ア クロックの周波数制御

イ 使用しないブロックへのクロック供給停止

ウ 使用しないブロックへの電源供給停止

エ 電源電圧の調整


正解


解説

リーク電流は、絶縁されていて電流が流れないはずの個所で、電流が漏れ出すことである。対策としては、使用しないブロックへの電源供給停止が有効である。
なお、動作する必要がない回路ブロックへの電源供給を遮断することによって、消費電力を減らすことを、パワーゲーティングという。

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