平成23年度 秋期
応用情報技術者試験問題と解答
問23
LSIの故障メカニズムの一つであるESD (Electrostatic
Discharge) 破壊の説明として、適切なものはどれか。

 ア 機械的な力によって、配線が切断されてしまう現象
 イ 寄生サイリスタの導通によって、半導体素子が破壊
   されてしまう現象
 ウ 静電気放電によって、半導体素子が破壊されて
   しまう現象
 エ 電流が過度に流れることによって、配線が切断されて
   しまう現象



【正解】 ウ

ア 物理的な破壊であり、ESDの説明ではない。
イ 
ラッチアップの説明である。
ウ 正しい。 
ESDは静電放電や静電気放電と呼ばれる。
エ 過電流による破壊であり、ESDの説明ではない。

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